露點(diǎn)儀的分類(lèi)：
 

　　1、鏡面式
 

　　不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì )結露。采用光電檢測技術(shù)，檢測出露層并測量結露時(shí)的溫度，直接顯示露點(diǎn)。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測量結露溫度前提下，該種露點(diǎn)儀可作為標準露點(diǎn)儀使用。目前國際上*高精度達到±0.1℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±0.5℃以?xún)入妭鞲衅魇铰饵c(diǎn)儀。
 

　　采用親水性材料或憎水性材料作為介質(zhì)，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數或電導率發(fā)生相應變化，測出當時(shí)的電容值或電阻值，就能知道當時(shí)的氣體水份含量。建立在露點(diǎn)單位制上設計的該類(lèi)傳感器，構成了電傳感器式露點(diǎn)分析儀。目前國際上*高精度達到±1.0℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±3℃以?xún)取?br /> 

　　2、冷鏡法
 

　　也是一種經(jīng)典的測量方法。讓樣氣流經(jīng)露點(diǎn)冷鏡室的冷凝鏡，通過(guò)等壓制冷，使得樣氣達到飽和結露狀態(tài)(冷凝鏡上有液滴析出)，測量冷凝鏡此時(shí)的溫度即是樣氣的露點(diǎn)。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是精度高，尤其在采用半導體制冷和光電檢測技術(shù)后，不確定度甚至可達0.1℃；缺點(diǎn)是響應速度較慢，尤其在露點(diǎn)-60℃以下，平衡時(shí)間甚至達幾個(gè)小時(shí)，而且此方法對樣氣的清潔性和腐蝕性要求也較高，否則會(huì )影響光電檢測效果或產(chǎn)生‘偽結露’造成測量誤差。
 

　　3、阻容法
 

　　是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個(gè)高純鋁棒，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜，金膜與鋁棒之間形成電容，由于氧化鋁薄膜的吸水特性，導致電容值隨樣氣水分的多少而改變，測量該電容值即可得到樣氣的濕度。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是測量量程可更低，甚至達-100℃，另一突出優(yōu)點(diǎn)是響應速度非?？鞆母傻綕耥憫环昼娍蛇_90%，因而多用于現場(chǎng)和快速測量場(chǎng)合；缺點(diǎn)是精度較差，不確定度多為±2～3℃。老化和漂移嚴重，使用3~6個(gè)月必須校準。